Wenjing Rao
更新-260416 | 发布-260416
基本信息
- 高校：University of Illinois at Chicago（美国）
- 院系：电气与计算机工程系
- 职称：副教授
- 性别：女
- 研究领域：集成电路测试、硬件安全、容错设计与可靠计算
- 博士毕业院校：加州大学圣地亚哥分校
- 本科毕业院校：北京大学
个人研究情况
Wenjing Rao（饶文静）现任伊利诺伊大学芝加哥分校 ECE 副教授，长期从事集成电路与硬件安全研究。核心方向包括 VLSI 测试与可测性设计、硬件安全（PUF 等）、容错与纳米电子系统可靠性、CAD 算法。主持 NSF CAREER 等项目，聚焦后 CMOS 时代高缺陷率系统的容错设计与硬件安全验证，在 DATE 等顶会发表多篇论文，兼顾理论算法与工程实现，同时深耕教学与本科生科研指导。
学术影响力
- 谷歌学术引用：604
- H指数：22
整体评价
A
备注
无